孔徑分析儀/隙度分析儀

摘要 ZKJ-20微孔濾膜孔徑測定儀采用冒泡法，專為濾膜、濾紙、隔膜等材料設計，高精度檢測最大與平均孔徑。儀器觸摸屏控制，帶溫度補償與微型打印機，操作簡便、數據穩定，符合多項國標，是微孔材料孔徑檢測的專用設備。

摘要 微濾膜孔徑分析儀運用泡壓法（又稱毛細流動法、氣液排出法）原理，可精確測試各種微濾膜材料的泡點壓力以及氣體滲透率，以圖表形式直觀展現出材料的孔徑分布情況，能檢測樣品的缺陷，估測過濾精度。

摘要自動二氧化鋁比表面與孔徑分析儀，吸附、脫附等溫線測定。單點和多點BET比表面積。Langmuir比表面積測定。粒度估算和真密度測試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析，以及外表面積測定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。可以...

摘要 電子式孔徑測定儀 孔徑測定儀 電子式孔徑檢測儀 型號：XRS-KJ-10本KJ-10型電子式孔徑測定儀是根據GB2679，14-1996，EN868-3的標準所制定的測試原理與測量原理所的電子式測量儀器.

摘要 一、儀器簡介:Rise-1010型全自動比表面積及孔隙度分析儀參ISO9277,ISO15901,標準和GB-119587標準，依據靜態容量法通過質量平衡方程，靜態氣體平衡和壓力測定來測試吸附過程

摘要 一、儀器簡介:Rise-1001型全自動比表面積及孔隙度分析儀參照ISO9277、ISO15901國際標準和GB-119587國家標準，依據靜態容量法測量原理，通過質量平衡方程、靜態氣體平衡和壓力測定來測試吸脫附過程，測試過程在液氮溫度下進行

摘要 一、儀器簡介:Rise-1030型全自動比表面積及孔隙度分析儀參照ISO9277、ISO15901準和GB-119587標準，依據靜態容量法測量原理，通過質量平衡方程、靜態氣體平衡和壓力測定來測試吸脫附過程，測試過程在液氮溫度下進行

摘要 一、儀器簡介:Rise-1020型全自動比表面積及孔隙度分析儀參ISO9277,ISO15901,準和GB-119587標準，依據靜態容量法通過質量平衡方程，靜態氣體平衡和壓力測定來測試吸附過程

摘要 儀器簡介:Rise-1001型全自動比表面積及孔隙度分析儀參照ISO9277、ISO15901國際標準和GB-119587國家標準，依據靜態容量法測量原理，通過質量平衡方程、靜態氣體平衡和壓力測定來測試吸脫附過程，測試過程在液氮溫度下進行

摘要 儀器簡介:Rise-1030型全自動比表面積及孔隙度分析儀參照ISO9277、ISO15901國際標準和GB-119587國家標準，依據靜態容量法測量原理，通過質量平衡方程、靜態氣體平衡和壓力測定來測試吸脫附過程，測試過程在液氮溫度下進行

摘要 Rise-1020型全自動比表面積及孔隙度分析儀參照ISO9277、ISO15901國際標準和GB-119587國家標準，依據靜態容量法測量原理，通過質量平衡方程、靜態氣體平衡和壓力測定來測試吸脫附過程，測試過程在液氮溫度下進行

摘要 儀器簡介:Rise-1010型全自動比表面積及孔隙度分析儀參照ISO9277、ISO15901國際標準和GB-119587國家標準，依據靜態容量法測量原理，通過質量平衡方程、靜態氣體平衡和壓力測定來測試吸脫附過程，測試過程在液氮溫度下進行

摘要該儀器使用液體蒸氣壓在毛細微孔凝聚原理做為檢測基礎，在定溫操作下改變凝聚壓力，經由Kelvinequation求得孔徑，進而可以分析出小于1納米的孔徑，接著藉由不同凝聚壓力下進行蒸氣滲透測試，可得其孔徑分布，所需測試壓力僅需15psi，適用于納濾膜材、隔離膜及各種納米...

摘要美國PMI儀器全自動比表面積及微孔孔徑分析儀使用精準的體積法測試模式，經由氣體吸附體積法測量材料孔的大小及分布，并計算表面積。測試時將樣品放置在U形樣品管內，在定溫定壓下，量測氣體因被材料吸附至孔洞內而造成的平衡壓力變化，用壓力變化和吸附量的曲線來計算材料比表面及孔徑...

摘要此設備使用兩種不相溶的潤濕液體，以達到測量目的。使用的潤濕液必須能自然地填入材料的孔隙，具較低表面張力的液體一用來待測樣品本身的孔洞，將較高表面張力的液體二添加到樣品的上方，并加壓來置換孔洞中的液體一，藉由加壓的液體二克服樣品孔洞內的液體一與液體二之間的表面張力差，以...

摘要 該儀器可測定各種多孔材料，可適用廣泛測試條件，快速、準確、低成本、穩定度高，應用于環境、材料、藥物、生物等各種領域，適用于R&D及QC檢測。

摘要PMIPorometer氣體滲透法孔徑分析儀能精確測量出多孔性材料重要的微孔特性，如最小孔徑、的孔徑、孔徑分布、液體滲透率、氣體滲透率和外表面積。目前還沒有其它的測量儀能與之相比。該流分析儀的設計技術使它還具有很多優點，如可在室溫和低壓條件下工作，測試時間非常短，只需...

摘要 ASAP 2460系列多站擴展式比表面積與孔隙度分析儀

摘要 全自動比表面與孔隙度分析儀ASAP 2060系列

摘要 ASAP 2020 Plus 系列快速比表面與孔隙度分析儀

摘要 全自動快速比表面積與孔隙度分析儀Gemini VII 2390系列

摘要 Porolux 1000系列毛細流孔徑分析儀

摘要精微高博是微孔分析儀**的廠商,精微高博微孔分析儀一并榮獲中國測試證書,及CE認證并且還有**的**產品是通過***企業產品簡介：經濟、實用型專業物理吸附儀，比表面、介孔、微孔一體化分析，全自動測試，性價比，國內產品！性能參數：儀器型號：JW-BK122W微孔分析儀微...

摘要 JW-BK基礎型比表面積及孔徑分布，是表征微納米粉體材料表面物性及孔結構的重要參數之一，常用、可靠的方法是靜態容量法氣體吸附

摘要 性能參數型號JW-BK112JW-BK222JW-BK122W測試原理靜態容量法氣體吸附吸附質氣體N2、Ar、Kr、H2、O2、CO2、CO、NH3、CH4等非腐蝕性氣體分析口2個,交替測試2個,并列同時測試2個,交替測試比表面積范圍0.0005m2/g至未知上限

摘要 JW-BK100系列比表面積及孔徑分布，是表征微納米粉體材料表面物性及孔結構的重要參數之一，常用、可靠的方法是靜態容量法氣體吸附

摘要 JW-BK200系列比表面積及孔徑分布，是表征微納米粉體材料表面物性及孔結構的重要參數之一，常用、可靠的方法是靜態容量法氣體吸附

摘要 JW-BK300系列比表面積及孔徑分布，是表征微納米粉體材料表面物性及孔結構的重要參數之一，常用、可靠的方法是靜態容量法氣體吸附

摘要 TB系列TB系列比表面積及孔徑分析儀，是北京精微高博科學技術有限公司**推出的表征微納米粉體材料表面物性及孔結構的儀器

摘要 Features產品特點測試效率高可同時進行*多四個樣品分析，采用的Vtech控制技術，使BET比表面積測試效率**達20min/樣，滿足生產、科研等領域中對測試量需求比較大的客戶的使用要求

摘要 微孔bet比表面積分析儀JW-BK200C研究級超高性能雙站比表面及微孔孔隙度分析儀，繼承JW系列孔徑分析儀所有技術特點，自主獨特創新

摘要 微孔bet比表面積分析儀JW-BK200C研究級超高性能雙站比表面及微孔孔隙度分析儀，繼承JW系列孔徑分析儀所有技術特點，自主獨特創新

摘要 比表面及介孔分布測定儀精微高博是靜態法比表面及介孔分布測定儀**的廠商,精微高博靜態法比表面及介孔分布測定儀一并榮獲中國測試證書,及CE認證并且還有**的**產品是通過***企業

摘要 微孔bet比表面積分析儀JW-BK200C研究級超高性能雙站比表面及微孔孔隙度分析儀，繼承JW系列孔徑分析儀所有技術特點，自主獨特創新

摘要 產品特點壓力傳感器核心部件

摘要 精微高博是四站靜態BET比表面測定儀**的廠商,精微高博四站靜態BET比表面測定儀一并榮獲中國測試證書,及CE認證并且還有**的**產品是通過***企業產品簡介：2013新品！四站式高效率靜態容量法BET比表面專業測定儀

摘要 孔徑大小及分布是反映過濾材料性能好壞的重要物理參數，與過濾材料的過濾精度及透氣性有著密切的關聯

摘要 孔徑范圍0.35nm-500nm比表面范圍0.0001m2/g-無上限中值孔徑重復性（SD）≤0.02nm比表面重復性（RSD）±1%產品概覽Features產品特點測試原理低溫條件下（液氮或液氬等）

摘要 孔徑范圍0.35nm-500nm比表面范圍0.0001m2/g-無上限中值孔徑重復性（SD）≤0.02nm比表面重復性（RSD）±1%產品概覽Features產品特點測試原理低溫條件下（液氮或液氬等）

摘要 孔徑范圍0.35nm-500nm比表面范圍0.0005m2/g-無上限中值孔徑重復性（標準偏差）≤0.02nm測試重復性（RSD）±1%產品概覽產品特點測試原理低溫條件下（液氮或液氬等）

摘要 孔徑范圍0.35nm-500nm比表面范圍0.0001m2/g-無上限中值孔徑重復性（SD）≤0.02nm比表面重復性（RSD）±1%產品概覽Features產品特點測試原理低溫條件下（液氮或液氬等）

摘要 四站靜態BET比表面測定儀精微高博是四站靜態BET比表面測定儀**的廠商,精微高博四站靜態BET比表面測定儀一并榮獲中國測試證書,及CE認證并且還有**的**產品是通過***企業產品簡介：2013新品！四站式高效率靜態容量法BET比表面專業測定儀

摘要 孔徑范圍：0.35nm-500nm比表面范圍：0.0005m2/g-無上限中值孔徑重復性（SD）：≤0.02nm比表面重復性（RSD）：±1%產品特點測試原理低溫條件下（液氮或液氬等）

摘要孔徑范圍：0.35nm-500nm比表面范圍：0.0005m-/g-無上限中值孔徑重復性(SD)：≤0.02nm比表面重復性(RSD)：+1%技術性的Vtech技術融合了Vspace冷自由空間控制技術、Vlevel液氮面控制技術、Vstable穩定測試技術、Vctrl...

摘要 產品特點測試原理低溫條件下（液氮或液氬等），在密閉的真空系統中，改變吸附質氣體壓力，通過高精密壓力傳感器測量出樣品吸附氣體分子前后的壓力變化值，進而計算出氣體吸附量，描繪出等溫吸脫附曲線，應用各種物理分析模型進行比表面積及孔隙度分析